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芯片失效分析——復(fù)達(dá)客戶檢測案例

客戶背景


客戶是上海某醫(yī)療科技公司，發(fā)現(xiàn)其中一臺設(shè)備中芯片進(jìn)行讀寫時操作失敗。據(jù)委托方提供的信息，正常芯片DAT和GND引腳的阻抗約為10M歐，這顆異常芯片的阻抗無窮大。故委托方委托我司對故障的芯片進(jìn)行失效分析。


樣品名稱


IEERAM 芯片


客戶需求


對故障的芯片進(jìn)行失效分析


解決方案


我司工程師對失效芯片1#和良好芯片2#進(jìn)行測試。分別對芯片進(jìn)行了外觀，X-ray，SAM，開蓋觀察，電性能測試。探明失效原因由于第二焊點(diǎn)的焊線脫落導(dǎo)致的。


芯片失效分析.png

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